Chambre de choc à température personnalisée répondant aux normes de test IEC 60068-2-14, Test Na2

Dans le monde de l'électronique et de la fabrication industrielle, la nécessité de tests fiables et précis des composants est primordiale. Les chambres de choc thermique personnalisées, conçues pour répondre aux normes de test IEC 60068-2-14, Test Na2, jouent un rôle crucial pour garantir la qualité et la durabilité d'une large gamme de produits.

Cette chambre de choc thermique construite sur mesure est spécialement conçue pour soumettre les composants aux exigences rigoureuses du test IEC 60068-2-14, Test Na2. Elle s'adresse aux fabricants des secteurs de l'électronique, de l'automobile, de l'aérospatiale et des télécommunications.

L'objectif principal est d'évaluer la capacité des composants tels que les semi-conducteurs, les connecteurs et les circuits imprimés à résister aux changements de température rapides et extrêmes. En simulant les conditions de choc thermique que ces composants peuvent rencontrer pendant leur durée de vie, les fabricants peuvent identifier les faiblesses potentielles, optimiser les conceptions et les processus de fabrication, et améliorer la fiabilité et les performances globales de leurs produits.

• Construction robuste et isolée de la chambre

  La chambre est construite avec des matériaux robustes et résistants à la chaleur qui peuvent supporter les contraintes thermiques intenses. Les parois sont en acier haute résistance avec des couches d'isolation avancées pour minimiser le transfert de chaleur entre les différentes zones de température. La porte est équipée d'un mécanisme d'étanchéité fiable et d'une fenêtre d'observation, permettant aux opérateurs de surveiller le processus de test sans compromettre l'intégrité de la chambre. L'intérieur est conçu pour créer des chambres chaudes et froides distinctes, assurant des transitions de température rapides et uniformes.

• Système de contrôle de température de précision

  Plage de température et cyclage : Capable d'atteindre une large plage de températures, généralement de -70°C à +125°C. Le système peut exécuter un cyclage thermique rapide entre les zones chaudes et froides, avec un temps de transition aussi court que quelques minutes. Ceci est essentiel pour reproduire les changements de température soudains que les composants peuvent subir dans des applications réelles, par exemple lorsqu'un appareil est mis sous tension ou hors tension dans un environnement difficile. Le contrôle de la température est précis à ±0,5°C près, ce qui garantit des résultats de test fiables et reproductibles.

• Panneau de commande intuitif et interface d'acquisition de données

  Le panneau de commande est convivial et permet aux opérateurs de définir et d'ajuster facilement les paramètres de test tels que les niveaux de température, les temps de maintien dans chaque zone et le nombre de cycles de choc thermique. Il fournit des affichages en temps réel de la température actuelle dans les deux zones, de l'état du processus de test et de toute alarme ou avertissement.

  La chambre est intégrée à un système complet d'acquisition de données qui enregistre toutes les données de test pertinentes. Cela comprend les historiques de température, les temps de cycle et tous les changements observables dans les propriétés physiques ou électriques des composants. Les données peuvent être stockées dans une mémoire intégrée ou exportées vers des périphériques de stockage externes pour une analyse plus approfondie. Le système peut également générer des rapports de test détaillés dans différents formats.

• Fonctions de sécurité et alarmes

  Pour assurer la sécurité des opérateurs et la protection des échantillons de test et de la chambre elle-même, une série de fonctions de sécurité est intégrée. Celles-ci comprennent des systèmes de protection contre les surchauffes et les surintensités, des boutons d'arrêt d'urgence et des alarmes en cas de fluctuations de température anormales, de dysfonctionnements de l'équipement ou de tout autre problème lié à la sécurité. La chambre est également équipée de systèmes de ventilation et d'échappement appropriés pour gérer les gaz ou vapeurs potentiellement nocifs qui peuvent être générés pendant le processus de test.

• Plage de température et précision

  La plage de température de -70°C à +125°C avec une précision de ±0,5°C offre un spectre de test complet. Différents composants ont des tolérances de température et des caractéristiques de performance différentes. Par exemple, certains semi-conducteurs peuvent subir des changements de conductivité électrique à basse température, tandis que les connecteurs peuvent se dilater ou se contracter, affectant leur intégrité mécanique. Le contrôle précis de la température garantit que les conditions de test sont maintenues avec précision, ce qui permet une évaluation détaillée du comportement des composants.

• Paramètres du cycle de choc thermique

  La chambre peut être programmée pour effectuer un nombre spécifique de cycles de choc thermique, généralement de 10 à 500, en fonction des exigences de la norme IEC 60068-2-14, Test Na2 et de la nature des composants. Le temps de maintien dans chaque zone de température peut également être ajusté, de quelques minutes à plusieurs heures. Cette flexibilité permet aux fabricants de simuler une grande variété de scénarios réels et d'évaluer la durabilité à long terme des composants dans différentes conditions de choc thermique.

• Volume de test et capacité de charge utile

  La chambre offre un volume de test personnalisable, généralement de 2 m³ à 10 m³, pour accueillir un nombre important de composants. La capacité de charge utile est conçue pour gérer des composants lourds et volumineux, avec une capacité maximale allant jusqu'à plusieurs tonnes. Cela permet de tester à la fois des composants individuels et de petits assemblages.

• Fréquence et résolution d'échantillonnage des données

  Le système d'acquisition de données échantillonne les données à une fréquence allant jusqu'à 500 Hz. Les données de température ont une résolution de 0,1°C. Cet échantillonnage haute résolution et fréquent permet de détecter les moindres changements et tendances de température, fournissant des informations précieuses sur le comportement des composants lors des tests de choc thermique.